其他 已完成 会议编号: huiyi-2023-1209 推荐指数: 7

2023年【2023CIS年会】-动态测试技术及仪器专题论坛

会议时间

2023年07月14日 - 2023年07月16日

会议地点

预计规模

500人

会议简介

2023年中国仪器仪表学会学术年会(以下简称年会)由中国仪器仪表学会、国务院学位委员会仪器科学与技术学科评议组、教育部高等学校仪器类专业教学指导委员会主办,哈尔滨工业大学承办。大会旨在促进仪器仪表与测量控制科学技术发展,推广仪器仪表与测量控制科技的普及,推动仪器仪表与测量控制科学技术队伍的成长,扶植仪器仪表与测量控制产业的创新提升,为会员和仪器仪表与测量控制科技工作者搭建学术资源交流平台。

年会将于2023年7月14日-16日在哈尔滨召开,在此,我们诚邀从事测量与仪器仪表技术及相关研究的同仁踊跃投稿、出席会议,期待您的参与!

动态测试技术及仪器专题论坛

分论坛主席

王巍院士(中国航天科技集团)

分论坛副主席

于瀛洁院长(上海大学)

王学锋副所长(北京航天控制仪器研究所)

会议内容

会议日程

2023年5月20日

论文提交截止

2023年6月5日

评审结果时间

2023年7月14-16日

会议时间

参会对象

注册征文

征文方向:

动态测试包括具有时变特性的动态参量测试或具有大动态范围的参量测试,在智能制造、国防军工、健康监测及诊断、生物医药、海洋观测、深空深地探测等领域具有广泛研究和应用。此专题论坛旨在突出动态测试技术及仪器的前沿进展和趋势,范围包括但不限于:

1、微纳结构及元件动态特性测量技术

2、地震、雷达等复杂参量测试技术

3、面向动态测试的量子传感与测量技术

4、飞机、建筑健康监测及诊断技术

5、海洋成像及深海运动声学测试技术

6、燃烧、气流等复杂环境参数测试技术

7、智能制造中的动态测试

征文须知

1、会议征文为长摘要形式,内容一般不超过2页(论文模板详见附件),目的旨在加强学术交流,欢迎无需正式发表或已发表的优秀论文投稿交流。

2、会议论文经评审收录至大会论文集,每篇论文要求至少有一位作者注册参会。

3、收录论文可参与大会张贴报告交流,优秀论文可作为分论坛会议报告。

4、优秀论文可根据全文质量推荐至Advanced Devices & Instrumentation(先进仪器与器件)国际英文期刊。

5、年会论文投稿网址:http://meeting.cis.org.cn/。

结业证书

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报名信息

报名截止 2023年07月14日
发布时间 2023-04-28 21:21
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主办单位

中国仪器仪表学会

承办单位

  • • 北京航天控制仪器研究所
  • • 上海大学

主办单位

  • • 国务院学位委员会仪器科学与技术学科评议组
  • • 教育部高等学校仪器类专业教学指导委员会

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